【xps表征全稱】

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xps表征全稱為：X射線光電子能譜 ， 是X-ray photoelectron spectroscopy的縮寫 。該技術主要利用X射線激發固體表面原子中的電子 ， 通過測量電子發射的能量和角度等信息分析表面化學成分、化學鍵狀態及其化學環境 。

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